mgr Karolina Idczak

Telefon: (71) 375 9373
Login: kidczak
E-mail: login@ifd.uni.wroc.pl

Doktorat:



Data: Nov. 11, 2013
Temat: Badanie defektów w stopach podwójnych na bazie żelaza za pomocą spektroskopii mössbauerowskiej oraz anihilacji pozytonów
Osoba: mgr Rafał Idczak
Promotor: dr hab. Jan Chojcan, prof. UWr
Data: Dec. 12, 2014
Temat: Badanie wzrostu cienkich warstw cyrkonu na powierzchniach wybranych półprzewodników
Osoba: mgr Karolina Idczak
Promotor: dr hab. Leszek Markowski, prof. UWr

Publikacje

  • K. Idczak, P. Mazur, S. Zuber, L. Markowski,An investigation of thin Zr films on 6H-SiC(0001) and GaN(0001) surfaces by XPS, LEED, and STM,Applied Physics A 122 (2016) 268
  • K. Idczak, R. Idczak, R. Konieczny,An investigation of the corrosion of polycrystalline iron by XPS, TMS and CEMS,Physica B 491 (2016) 37–45 491 (2016) 37–45
  • Sylwia Bilińska, Karolina Idczak, Marta Skiścim, Leszek Markowski,Thin Pb films on the Si(111)-√7x√3-In reconstructed surfaces,Vacuum 122 (2015) 300-305
  • K. Idczak, P. Mazur, S. Zuber, L. Markowski, M. Skiścim, S. Bilińska,Growth of thin zirconium and zirconium oxides films on the n-GaN(0 0 0 1) surface studied by XPS and LEED.,Applied Surface Science 304 (2014) 29-34
  • Marta Skiścim, Sylwia Bilińska, Karolina Idczak, Leszek Markowski,Low coverage Si(1 1 1)√7 ×√3–In reconstruction: Deposition rate effect, Applied Surface Science 304 (2014) 103-106
  • Rafał Idczak , Karolina Idczak, Robert Konieczny ,Oxidation and surface segregation of chromium in Fe–Cr alloys studied by Mössbauer and X-ray photoelectron spectroscopy,Journal of Nuclear Materials 452 (2014) 141–146
  • K. Idczak, M. Skiścim, L. Markowski,Comparison of the adsorption of thin zirconium and titanium oxides films on the 6H-SiC(0001) surface ,Cryst. Res. Technol. 47, No. 3 (2012) 329 - 332.
  • Karolina Idczak, Piotr Mazur, Leszek Markowski, Marta Skiścim, M. Musiał,Growth of thin zirconium oxide films on the 6H-SiC(0001) surface.,Applied Surface Science 258 (2012) 8349-8353
  • Marta Skiścim, Karolina Idczak, Leszek Markowski,Badania układu cienkowarstwowego ZrOx na powierzchni 6H-SiC (0001) metodami LEED i XPS ,Elektronika 8 (2011)